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    半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀 型號(hào):HDU6-FZ-2006

    半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀 型號(hào):HDU6-FZ-2006

    簡(jiǎn)要描述:
    半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀 型號(hào):HDU6-FZ-2006
    主要技術(shù)指標(biāo):
    測(cè)量范圍:
    電阻 10-4 - 105 Ω, 分辨率 10-4 Ω
    電阻率 10-4 - 105 Ω.cm,分辨率 10-4 Ω.cm
    測(cè)量誤差 ±(0.3% 讀數(shù) + 2 字)
    測(cè)量電壓量程:20mV, 200mV, 2V,分辨率 10 μV
    測(cè)量精度: ±(0.3% 讀數(shù) + 2 字)

    產(chǎn)品時(shí)間:2020-10-13

    訪問(wèn)量:3411

    廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家

    生產(chǎn)地址:

    半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀 型號(hào):HDU6-FZ-2006  

    儀器的電流輸出為 10 μA - 100 mA ,電阻率測(cè)試范圍為 10 -2 - 10 5 Ω cm ,直接采用數(shù)字顯示。
    適用于有機(jī)、無(wú)機(jī)半導(dǎo)體粉末材料(包括納米級(jí))的電阻率測(cè)量, 也可以測(cè)量固體半導(dǎo)體材料,適合于太陽(yáng)能多晶硅、硅粉質(zhì)量的測(cè)量、分選和質(zhì)量控制. 電阻率值直接數(shù)字顯示由具有高精度加壓系統(tǒng), 高度測(cè)量的測(cè)試臺(tái)和儀器組成.
    儀器主要包括電氣箱和測(cè)試架兩部分,電氣測(cè)試部分由高精度直流數(shù)字電壓表和直流恒定電流源組成。測(cè)試架為壓力傳感器, 加壓機(jī)構(gòu)和粉末標(biāo)準(zhǔn)容器組成。壓力機(jī)構(gòu)采用手動(dòng)操作、壓力平穩(wěn)。本儀器具有測(cè)量精度高,穩(wěn)定性好,重復(fù)性好,使用方便等特點(diǎn), 并有自校功能。
    本儀器適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門、是檢驗(yàn)和分析固態(tài)、粉態(tài)和納米樣品質(zhì)量的一種重要工具。
    FZ-2006型半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀
    本儀器是為了適應(yīng)當(dāng)前迅速發(fā)展中的高分子半導(dǎo)電納米材料電阻率測(cè)試需要,參照有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的。 儀器的電流輸出為 10 μA - 100 mA ,電阻率測(cè)試范圍為 10 -2 - 10 5 Ω cm ,直接采用數(shù)字顯示。儀器的可靠性和穩(wěn)定性增強(qiáng),更方便于用戶, 而且價(jià)格低廉、實(shí)惠。配置不同的測(cè)試架可以對(duì)半導(dǎo)體粉末、高分子納米粉末和固態(tài)金屬進(jìn)行電阻、電阻率多用途的測(cè)量。
    適用于有機(jī)、無(wú)機(jī)半導(dǎo)體粉末材料(包括納米級(jí))的電阻率測(cè)量, 也可以測(cè)量固體半導(dǎo)體材料,適合于太陽(yáng)能多晶硅、硅粉質(zhì)量的測(cè)量、分選和質(zhì)量控制. 電阻率值直接數(shù)字顯示由具有高精度加壓系統(tǒng), 高度測(cè)量的測(cè)試臺(tái)和儀器組成.
    儀器主要包括電氣箱和測(cè)試架兩部分,電氣測(cè)試部分由高精度直流數(shù)字電壓表和直流恒定電流源組成。測(cè)試架為壓力傳感器, 加壓機(jī)構(gòu)和粉末標(biāo)準(zhǔn)容器組成。壓力機(jī)構(gòu)采用手動(dòng)操作、壓力平穩(wěn)。本儀器具有測(cè)量精度高,穩(wěn)定性好,重復(fù)性好,使用方便等特點(diǎn), 并有自校功能。
    本儀器采用通用的電流-電壓降法即四端子測(cè)量法,可以消除電極與粉末接觸產(chǎn)生的接觸電阻誤差,還可以消除聯(lián)接系統(tǒng)所帶來(lái)的誤差, 克服了以往傳統(tǒng)的二端測(cè)量粉末電阻率儀器的弊病,真實(shí)、準(zhǔn)確地測(cè)量出粉末樣品的電阻率,因此重復(fù)性好。
    本儀器適用于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門、是檢驗(yàn)和分析固態(tài)、粉態(tài)和納米樣品質(zhì)量的一種重要工具。

    半導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀 型號(hào):HDU6-FZ-2006  
    主要技術(shù)指標(biāo):
    測(cè)量范圍:
    電阻 10-4 - 105 Ω, 分辨率 10-4 Ω
    電阻率 10-4 - 105 Ω.cm,分辨率 10-4 Ω.cm
    測(cè)量誤差 ±(0.3% 讀數(shù) + 2 字)
    測(cè)量電壓量程:20mV, 200mV, 2V,分辨率 10 μV
    測(cè)量精度: ±(0.3% 讀數(shù) + 2 字)
    測(cè)量電流:0 - 100 mA 連續(xù)可調(diào),
    電流量程:10 μA, 100 μA, 1 mA, 10 mA, 100mA
    試樣粒度:40 目以下 - 60 目以上(標(biāo)準(zhǔn)篩網(wǎng))納米粉末
    試樣容器:內(nèi)腔Φ16.30 ± 0.1mm
    試樣高度:16mm ± 0.5mm
    測(cè)量誤差:±0.1mm
    取樣壓力:4 Mpa ± 0.05 Mpa ( 40 kg/cm2 ± 0.5 kg/cm2)
    壓力量程:0 - 100 kg 可調(diào)
    顯示方式: 電阻、電阻率、壓力為 3 1/2 數(shù)字顯示,并自動(dòng)顯示單位和小數(shù)點(diǎn)
    電源:220 ± 10% , 50HZ-60HZ, 功率消耗 < 150W 消耗
    外形尺寸電氣箱:440mm×120mm×320mm
    備有粉末測(cè)試架和固態(tài)標(biāo)準(zhǔn)樣品測(cè)試臺(tái)供選用

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