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    數顯式硅酸根分析儀(不帶打印) GXF-215C

    數顯式硅酸根分析儀(不帶打印) GXF-215C

    簡要描述:
    數顯式硅酸根分析儀(不帶打印) GXF-215C
    測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
    基本誤差 ≤±2.5%FS
    重復性誤差 ≤±0.5%FS
    短期漂移 ≤±0.5%FS
    長期漂移 ≤±2.5%FS。

    產品時間:2020-09-03

    訪問量:1354

    廠商性質:生產廠家

    生產地址:

    數顯式硅酸根分析儀(不帶打印) GXF-215C 

    性能特點
    ?精度高,穩定性好。
    ?檢測元件具有恒溫環境保證了儀器高穩定性,并使儀器更快的進入到正常工作狀態,減小了機內外溫度變化對其穩定性的影響。
    ?儀器在不工作時自動待機,有效的保護了光源,延長了光源的使用壽命。
    ?經濟耐用,可以在現場長期連續運行。
    造型新穎美觀,使用操作方便

    數顯式硅酸根分析儀(不帶打印) GXF-215C 
    測量范圍 0~199.9μg/LSiO2
    基本誤差 ≤±2.5%FS
    重復性誤差 ≤±0.5%FS
    短期漂移 ≤±0.5%FS
    長期漂移 ≤±2.5%FS

     

    數顯式硅酸根分析儀數顯式硅酸根分析儀數顯式硅酸根分析儀數顯式硅酸根分析儀數顯式硅酸根分析儀數顯式硅酸根分析儀數顯式硅酸根分析儀數顯式硅酸根分析儀數顯式硅酸根分析儀數顯式硅酸根分析儀數顯式硅酸根分析儀

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